JTAGとは？

▼JTAG▼
JTAG（ジェイタグ, ”Joint Test Action Group”）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体(Joint European Test Action Group)の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。
半導体技術の進歩により集積回路チップのピン間隔も狭くなりプローブを立てての検査が困難になってきている。そのため検査時に、チップ内部の回路を数珠繋ぎにし内部状態を順番に読み出すしくみが考え出された。これをバウンダリスキャンテスト(Boundary Scan Test)といいそれを規格化したのがJTAGである。1990年にIEEE 1149.1として標準化されてる。

【情報源】Wikipedia
【引用元URL】http://ja.wikipedia.org/wiki/JTAG

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